西交大自主研发三维光学面扫描系统（三维光学扫描仪）详细介绍

1、采用国际进的外差式多频相移三维光学测量技术。与传统的格雷码加相移方法相比，测量精度更高，单次测量幅面更大（从150mm到3米）、抗干扰能力强、受被测工件表面明暗影响小，工件一般不需要喷显影剂，可测量表面剧烈变化的工件。
2、一机多用，单幅测量幅面从150mm到3米，可以测量几毫米到几十米的工件和物体。
一台测量系统的可同时扫描测量小型、中型、大型工件。
3、面扫描、测量数据密集。
单幅扫描一次获得130万~660万的点云，点云的点间距为0.04mm ~ 0.67mm，海量数据测量和处理，测量精度从0.008mm到0.05mm。
4、移动便携式测量。
与传统的三坐标测量机、激光抄数机相比，突出特点为移动便携式操作，流动式测量，不需要固定的大型操作台，移动式测量，可以扫描测量几毫米到几十米的产品工件和物体。
5、强大的自动拼接和重叠面自动删除功能。
功能强大的自动拼接功能，提高工件扫描效率80%以上，拼接精度更高，多幅拼接自动化完成，自动删除重叠面。可以与XJTUDP型工业数字近景三维摄影测量系统配合使用提高拼接精度。
6、测量扫描速度快。单幅（3米幅面）测量速度为3~6秒。
7、激光指示器测距。方便操作测量，提高测量效率。
8、提供多种标定板。标定板和十字架标定采用编码标志点和亚像素图像识别技术，标定精度更高更准确。标定板幅面从150mm*110mm到 3米*3米。
9、系统采用工业化产品设计。
所有硬件设备集成一起，一体化设计，性能稳定可靠。软件一体化集中控制所有硬件设备，包括激光指示器、工业相机、光栅投射器等。