| 品牌：西博三维（西交大） | 型号：TOPSCAN精密型 | 测量精度：0.005 |
| 加工定制：是 | 类型：精密型 | 扫描范围：支持多种测量幅面 |
| 扫描方式：面扫描 | 有效像素：可定制 | 规格：可定做 |
| 测量幅面：32×24mm（64×48mm，128×96mm） |
简介:
XJTUSO小型三维光学面扫描系统，是在XJTUOM型移动便携式光学面扫描系统的基础上研制，专门针对小型工件的逆向扫描和三维全尺寸快速检测。XJTUSO型具有XJTUOM型的功能之外，还拥有以下特点。
产 品 特 色:
| 测量幅面 | 点云间距 | 被测工件和物品 |
1 | 32×24mm | 0.025mm | 被测物品：珠宝、首饰、戒指、单颗牙齿等几毫米物品的测量和检测。 被测物品尺寸：几毫米。 |
2 | 64×48mm | 0.05mm | 被测物品：手机注塑零件、小型冲压件等 被测工件尺寸：十几毫米。 |
3 | 128×96mm | 0.1mm | 被测物品：各种家电零配件 被测工件尺寸：二十几毫米。 |
4 | 192×144mm | 0.15mm | 被测物品：各种家电零配件 被测工件尺寸：四十几毫米。 |
